D53IP002FR-G_Brochure_ToscaSeries-compressé

Série Tosca Microscopes à force atomique Tosca 200 et Tosca 400 Vous pouvez choisir entre deux cf3$0@T07%$?xw?ApT0&Q?uH&f?01T?P76AQ0utm un AFM haut de gamme destiné %@5?"A?B?!7??q6%9?? H&f?01T?P76AQ3(s?2" 2? ?B?0(%a %%@5 échantillons de taille moyenne et aux budgets limités. Les deux offrent le S(?E?D6HPB?!783biB?!T souplesse et de qualité. )?8?`B?9EtR3 ! dW)P9f@Bwb?1T?PuwW?4??s@T??1&?b B?!7Ab ?@t? t4?$x@FVc(B?!701?u(9??32?%x1tR49f@B uBv?8?q244w" 2? AHc312y0@?AbI6h???e@47I&tvF scientifiques que pour les utilisateurs industriels. 5YU"I`x#&1T?PuwW?%`?Da2)B4%9?vB?!7Tr ?3 ! 6DIX4%
x?@g9cA extrêmement précise et rapide au niveau nanométrique. Elle bénéficie 7??6w??8?q2t)
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%P?@d? accrue tout en simplifiant la manipulation globale des instruments. )XcRh$TuI2)B5?H @`9f@BuBv?1?c 96TB?!71?F0?`9(6@6g3&tv)0S12y0@6e26??E?)(?0'tce qeP?B?0$H?x8Dvhp0?W10?9?)80S6? ?W10?0iD?7??39??6DIXAxWuY??c4??s@T??18?q2 dU7pQ?`9??2h476BWQ!t2y0@B?!T $H?x6e26?5TGyW47I78e Quand efficacité rime avec simplicité $T?h31T?PuwW?47I$??0@t? t&tv)!$Fi Le Tosca inclut ans de garantie 3 Bons de formation client 3 échantillons de votre choix 10 Mesures détaillées sur ? Échange rapide et sûr du cantilever % A? 3Sh3 ! @7?RE 5#Q?t ?@)WF22A5M secondes suffisent pour insérer le cantilever dans la )?P?B?!7#?p??qAtrs?&?'9H&f?0?t?5 lors de son insertion et garantit aussi son bon positionnement. ? Alignement laser automatique % A? 5YU"I`x#&1T?PuwW?%?a?PB`D7dA72???U 7?w0 S#b ?w??)(?0shCQ?u2)B 4%
x?H&f?0?t?5t?I?6g3H&f?0#f!9B?!7 Ey?a@ S??0?`?R6w5#Y?wI 8@ en deux clics dans le logiciel de contrôle. Des fonctions innovantes pour une ?`?R?@d?9??2)B6e26?5TGyWv?d@&Q?u étape par étape ? La procédure d'engagement la plus simple sur le marché des AFM % A? 5YU"I6e26?Xae`@t? t?2e@68&H&f?0?t?58?qO 8?Wq!ct?w6DIXTr ?B?!7'n60!?Va@F des opérations les plus complexes à réaliser dans 8?5V&8`Rqd")?8?`1T?PuwW?%`?5?7H&f?06e26?uv @D?@- (GVI?7dA7)Uu8x3?8??'1?8? suit la position exacte du cantilever par rapport 3 ! 6DIXTr ?$UW"RB?!7Ab ?@t? t5pD b9??&&?qA@t? t%2"H&f?M logiciel de contrôle. ? Navigation sur l'échantillon en un clic % A? 5YU"I4Y 'h!u?y6"?C?W2)B4Y 'h?p??PB?!76DIu platine échantillons (pour les échantillons multiples 5p?06?(??EHb0B?Uqd?"P6g36DIX#y`?t(7?- !rDb?6DIX4Y 'hAUE&aS??0&6?@t? t" 2? 4??I%?"%6DIX'rUs 2?)(?3Sh3 ! 6DIu 2???UB?!7B?9'T??@1?F@#3p47c74 %?"%?FuP6DIX(?2?v0
EEB?!7A4eQ? 8?q24E?6g3BfpW???aH@B?9EtR1?g#f'q3?? Une fonction de zoom facilite cette procédure. ? Mesure automatisée par lots d'échantillons uniques et multiples Chargez plusieurs échantillons très facilement sur le H?8`3 ! 4?s5?B?!7S??08?q22)B V?C"?@CpS)?8?`"QbST&w
`5S8Bf??aH@1? échantillons garantit un positionnement stable des uF
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t??&???aH@1T?PuwW? permet de mesurer automatiquement dif$Q`tAents points 6g3" 2? 9x'E?%
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@%?DA2HUA?a"$ des modèles de lots prédéfinis peuvent être chargés et enregistr7? X` ? Des mesures précises – mouvement minimisé hors du plan % A? ?? TP&e48?bvhO?2$@t? t$e!H&f?0 HF0??Hh@%?a?P 6t7 %??cA4eQ?B?d"?i?8H&f?0 HF0?5S 6V%?a?m 6t7!rDb?6DIX)?P?B?!7&Dd&15YU"I?FpB?!T S??0?#?" 2? ?H13?07?B5
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PByD@t? t les scanners. Ce dernier est un inconvénient connu des systèmes AFM classiques avec scanner à tube 9??B 73 ! 6DIX2"G)@t? tB?!7%?TR9)?8?`6e26?uv @4#I? 08cc3 ! 6DIX?FpB?!7S??01T?P 0U?? ? Délais courts pour obtenir les résultats % A? )?8?`!X2se$92B?a?# C5P3 ! 03?e?D6HP (`X`@@ph?D?@4)
?B?!7$S?tw??0?p1T?PuwW? assure des délais courts pour obtenir les résultats. Les modes électriques avancés offrent en particulier une automatisation intelligente avec des fonctions 1?i
$)" ?7?!$ 4?81?g#fAveT?9??2)B (Sy?$1u?B"B?!78C6?47I&tv)??u? des commutations de gains pour une plage de &?Tv@t? t@HcB?!70g?t4a
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?9??" 2? &0u? B?!7$S?tw??0?p??aH@)`6(47I6DIX0g?t!boR de limiter le courant électrique passant à travers 'Q602 DUH&f?01T?PuwW?1?F44w'?`?c" 2? 3)?x6e26?C?b"?i?81?F@#3p5)8S9(6@3 ! yW(&` tâches de recherche. us8f0B?!7$S?tw??0?p9??2y0@x4wn #3V?(Y@1T?PuwW?%?a?P?BC`B?a?!ct?w&tv)0iD?71T?PuwW?& ? vA8?@9??1T?PuwW??%?p6X
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?B?!7$S?tw7WH"1?F2 ?Q!rDb?&tv)6EpYB?!7&?TvA?a"$?b$?` @)??y?@d?9??3$?G?6DIX6e26?Xae`@t? tB?!7&?Tv 7??&1T?Pi8VU&tv)%`?7?P9 %??7uWw59?h?X ?)e@7?6 ?#Y"Y8?q24Y 'h7dA7Bihp?1?F %
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???s?B?!7)4P6?2y0@9??B?!7(@5%?$o 6r?m Modèles de flux de travail personnalisés et rapports normalisés 6r?m 1T?PWB?Q(@5AaS`1rH8 6r?m 6hF ?fPfB?!7!sr12y0@B?!7 géométrie et rugosité des nanosurfaces 6r?m f7?P`&??t?08?q23)?x%`?0?PA4 avec superpositions 6r?m Correction simple des anomalies de mesure et artéfacts 6r?m Filtres intelligents pour une image de qualité maximale 6r?m Visualisation et analyse simples et rapides de la courbe de force 6r?m e??W10?#C( 9B?!7 Tr ?3 ! (2Pwp(de9GU9$tU?? (spectroscopie Raman p. ex.) 6r?m Guidage étape par étape pendant toute la procédure de mesure 6r?m Utilisation intuitive et explicite 6r?m Image du microscope en temps réel avec fonction zoom pour une détection rapide des caractéristiques 6r?m 1T?Pi8VU&tv)&?EAU99??$??0 $?7E?? sur un seul écran pour fournir une vue "?d 6r?m Utilisation à distance simple 6r?m #?dS@e$9B?a?6? 6r?m 5Uf?B?!7%`?EcC?8B%@ 6r?m Mises à jour logicielles et packages de diagnostic gratuits Tosca Control vous guide jusqu'aux résultats Tosca Analysis vous offre une infinité d'options d'analyse Des révélations notables sur vos échantillons Mélange de polymères 8s2yB?!7""W"U9/!??n image de phase et hauteur )7? B7Q1P?cA!?vb20wb#)???!?vb&qia %`?s?3C'??Y#)???B6?bq %HD ?3 ! @?0SI6?"Gs(vgW B?a?@SR?h0yW"'A?TC A?fQ&B?!78C6?9??5?P?)7? B7Q1P?cAE$Wp20wb#)???E$Wp&qia %`?s?3C!w$`x#)???!w$`x f7?P@?Q?y4a
B`?N904 de contact Microscope à force atomique mode conduction )?8?`1T?PuwW?6Q?0" 2? !?F sur la répartition des composants polymères à la surface à partir de leurs dif$Q`tAentes propriétés mécaniques. 1T?PuwW?6Yh??@t? t63&$P&tv) dif$Q`tAentes zones de conductions !rDb?CeP@%`?$ T&@?#?h&Ddy?Y? par la mesure précise de courant ??aH@% A?&0u?4?t Nano-indentation Électronique '?6g3??aH@d?hGs 3 ! (ad??V&8`6Q?? u? B7Q1P?cAWT0?20wb#)???Y?p&qia %`?s?3C'??Y#)???B6?bq Mode tapping )?8?`1T?PuwW?%qUhEu 52)B%`? SA$@u?V`X%@ 8?q2?t?0B?!7$H?x%`?s?3CB?!7ugSs3 ! 2?v!8q)5YU"I"TV?6DIu 5?P?9??H&f?0R????B?!7ugSs6X
` que les bourrelets latéraux sont calculés avec précision. Cela est important pour déterminer les propriétés mécaniques des matériaux 1?i
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#H&f?0Bcf1B?!7@!@95?8 Réseau de puits, réflexion en Z )ee? d?u A?fQ&B?!75?P?% A? utdA$?8?q2!?3 B7Q1P?cAX?hHP20wb#)???X?hHP&qia %`?s?3C'??Y#)???B6?bq Mode tapping 1T?PuwW?&?Tv@t? t0p?&S6?? comme la constante de maille du %`?f@@H&f?0%ix?@t? tB?!76DIXTr ?9?? la hauteur de chacun des puits. Semi-conducteur 2&Ce B7Q1P?cA(?#`20wb#)???(?#`&qia %`?s?3C'??Y#)???B6?bq Mode tapping Les structures déposées sur la plaquette sont imagées clairement 8?q2?t?09??6DIXB7Q?W10?(h@?? individuels peut être mesurée. Marches atomiques d3#?@t? tB?!77- B7QB?!7U?E?BcEIP?w`7`&2Icw #!?0VB?!7U?E?BcEIPr1C!#?#iCgT? B7Q1P?cA6?V`20wb#)???6?V`&qia %`?s?3C'??Y#)???B6?bq Mode contact )?8?`1T?PuwW?&?Tv@t? t!ct?w6e26?5TGyW6DIu marche atomique unique. Cet outil ??s?B?!7$H?x!
?96T6 AF`?W10? V238?q2A3H#$?%? que le graphène ou le disulfure B?!72?Y?a xqf  ?F?) ayant une épaisseur de film subnanométrique. Détails Mode Analyse ?2As Des outils et accessoires intelligents Probemaster 1T?PuwW?1?FAU?r?6GF@t? t6DIX3?6 6via@t? t47I'Qt(y@T07%$?xw?4?0U?E? 676B?!T BwC?$UW"RC?"I?f4@t? tU?E?"?i?86e26?D?F'@0FI?A6?1?Fy1?"fT@B?!7D?BH&f?0#f!9 B?!7f"?9??H&f?0?t?5!rDb?H&f?0 5#Q?t ?@$UW"R@7?REB?!72o B?!7?t?57X4??s@T??1$UW"Rr'60B?!74!!r!B?!7V`q47I"?i?8 le cantilever de votre choix se trouve en position optimale pour la mesure suivante. )9VYa(?7@AU?r?6GF@t? t" 2? ($AP(? 2t47ID?BH&f?0A`hgy?a@H&f?0 5#Q?t ?@ peut facilement être manipulé par des utilisateurs inexpérimentés. )?8?`$Pq?1u?B"??aH@?t?5!rDb?H&f?0#f!9B?!7f"? 6'?@#H&f?02d??&?'9?W10?43IP" FB r"? ` Isolation vibratoire active et enceinte acoustique 5
9ruI7`@t? t@ (AT%?a?P" 2? AHc318#0b"??@t? tU?A?a"$47I2 &tv)&?TvU93 ! ?W10?%`?"SX@???W pB`?g8?q2'%?
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H&f?08466B?!7@t!#?y&tv)9WEa??aH@BB 7??&?? TP&e48? 53W?7)??7CA?a"$&tv)1c 19??"Cfu@B?!7&?Tv@t? t"3?h%?A%a 0S?8B?!76DIX`x#&1T?PuwW?%?a?P" 2? )??7C@t? t?0@t? t9??v5r? !bo5s
&tv)Fs?AICv$?%?"?i?86DIX2??&tv) ?2? qui se ferment ou les voix. Ces bruits sont étouffés afin de ne pas influencer &tv)&?TvF@r0p%?A%D%?a?P???W pB`%`?u6s5???aH@44wB?!73'P4E3G0@t? t8?qO acier et se déplace malgré tout facilement sur ses roulettes intégrées. Wafer Stage )?8?`??$3D?PBSP ?w??)(?05pw?U?w?7SER06e26??wT0@t? t8?q26gtF?W10? 1)Bb97dA7B7QBisWt%?"%"? )HUbX)?8?`??$3D?PBSP%?a?P@iBf47I 6DIX?vx?B?!71)Bb9!ct?w?W10?9fbP13 ! a?d3?r?&?Tv9(6@B?!T $)wi#6QpB?!72?@?1?F@#3p!V?3&Y3 ! 6DIX#qH? standard. )?8?`??$3D?PBSPeIP`3 ! 6DIX&?Tv@t? t4a
t??&?B?!71T?PuwW?& ? vA8?@1?F96T6 de mesurer automatiquement dif$Q`tAents points sur la plaquette. La fonction B?!7%`?-D?F'C7f1u?B"96TE?H8?4ix?B?!703?eAB?Fw? M absolue sur la plaquette. Vous pouvez effectuer une analyse de rugosité sur une plaquette complète pour optimiser et développer de nouvelles étapes de traitement et effectuer une analyse des défaillances. Tosca 400 Tosca 200 Échantillons de grande taille Échantillons de taille moyenne Scanner %XP?SB?!7 h20?8? 1sy2V20wb#)???1sy2V7if$c?8 420wb#)????8 47if$c * %XP?SB?!7 h2?``6 A???7if$F!?vb7if$F ** Vitesse de balayage max. !?vb52X?hHP52 Échantillon (
t'@t? t)!T??B?!72?? 1sy2V#Apyb0eHA?(eyP?8 49??R7 XQH)!T??B?!72?? 7?hD#Apyb9??g(eyP7?hD9??R7 T?hg)!T??B?!72?? 88wyqA?2yXAG)? Répétabilité de position (unidirectionnelle) @qs)7if$F Vidéomicroscope Caméra ?`?cPy?a@X?hHP?7iBbI?hU?P 3 Eg?)?$)? 88??P#Apyb#)???88??P9??RT Résolution spatiale X?hHP7if$F Mise au point Mise au point motorisée Caméra d'observation Caméra ?`?cPy?a@X?hHP?7iBbI?hU?P 3 Eg?)?$)? 17?8#Apyb#)???17?89??RT Résolution spatiale ?8 47if$F Caméra d'observation latérale $UC3?6w?3#ab19??Tbp95#7?3?(?#`9??RT Modes Modes standards%!5a9?F2&0u?7bU")fv?A?fQ&B?!720'y B?9H?g?3 ! dt)P9f@BD$H??pT dt)P2
C9 Modes en option f7?P@?Q?y4a
B`?N904 B?!79?F2B?9H?g?3 ! dt)P9f@B???# B?9EtR3 ! dt)P9f@B3 ! &1XuB?!74IsCB?9EtR3 ! dW)P9f@Bug(Wqx0B?9EtR3 ! dW)P9f@B?vr??B?9H?g?3 ! dt)P9f@B68U@B?!7%r9? Dimensions et poids E?P61xS8#)???0 W(#)???? B?!7Cudh`%&?? @1 C#Apyb#)????XEY#Apyb#)???F?89??R7 E?P61xS8#)???0 W(#)???62`U@??aH@$S?twss " !Wv)?#Apyb#)???(bf5#Apyb#)???"q5??9??R7 T?hgB?!7Cudh`%&?? ?2FV@p?f? T?hg??aH@$S?twss " #C??p?f? 1T$T%pGPb3 ! ?D6HP3???h3 ! 77?" 20wb#)???77?" 7if$c &$ DC%pGPb3 ! ?D6HP3???h3 ! #uWO0wb%
#A???7if$c 7c?&8?q2B?b(`X`@??aH@??$3D?PBSP&CTh 1T?PuwW?%?a?P2)BU?E?"?i?8'@y3?!??ub4??sx`SQB www.anton-paar.com AVH'9 2020 Anton Paar GmbH | Tous droits réservés. Les spécifications peuvent faire l'objet de modifications sans avis préalable. 0`(q