Visuel deX'PERT3 MRD ET MRD (XL) Diffractomètres polyvalents

Description du produit

La nouvelle génération de diffractomètres polyvalents pour la recherche en matériaux

La longue et prospère histoire des diffractomètres MRD continue avec une nouvelle génération – X’Pert³ MRD and X’Pert³ MRD XL. Les performances et la fiabilité accrues de la nouvelle plateforme ont augmenté les capacités d'analyse et la puissance dans les études des:

• sciences des matériaux avancés
• Technologies des couches minces scientifiques et industrielles
• Caractérisations métrologiques dans le développement des procédés des semiconducteurs

Les deux systèmes traitent la même gamme d'applications avec la cartographie complètes de wafers jusqu'à 100 mm (X’Pert³ MRD) ou 200 mm (X’Pert³ MRD XL).