Visuel deZETIUM Spectromètre

Description du produit

La spectrométrie de fluorescence (XRF) est capable d'analyser les éléments constituants une large gamme de matériaux, y compris les solides, les liquides et les poudres en vrac. Conçu pour répondre aux demandes exigeantes du controle de production et des applications de R & D, le spectromètre Zetium apporte des fonctionnalités innovantes et une conception top qualité pour l'analyse à partir du sub ppm au pourcentage des éléments allant du Be à Am.

Bâti sur des années d'expérience et de succès avec notre gamme XRF, Zetium passe un cap technologique révolutionnaire dans l'analyse des matériaux. La plate-forme intégre la technologie SumXcore - une combinaison de WDXRF, EDXRF et XRD. Cette association unique de possibilités met Zetium dans une classe hors pair en terme de puissance d'analyse, de vitesse et de flexibilité dans de multiples environnements

Questions techniques fréquentes

Quels sont les avantages de la spectroscopie NIR pour l'analyse rapide des polymères?

F.A.Q Le 28/06/2024 - 1 réponse

Dernière réponse : La spectroscopie proche infrarouge (NIR) offre plusieurs avantages dans l'analyse rapide des polymères. Un des principaux avantages est la vitesse de mesure, qui permet des analyses... Lire plus

Image Epsilon 4 Epsilon 4
Image Zetium Zetium

Comment la technologie XRF peut-elle aider à optimiser le recyclage des métaux précieux?

F.A.Q Le 28/03/2025 - 1 réponse

Dernière réponse : La technologie XRF (fluorescence X à dispersion d'énergie) aide à optimiser le recyclage des métaux précieux de la manière suivante :Identification rapide :... Lire plus

Image Zetium Zetium
Image Axios FAST Axios FAST
Image Epsilon 1 Recherche et enseignement Epsilon 1 Recherche et enseignement
Voir toutes les questions

Actualités autour du ZETIUM :

Logo MALVERN PANALYTICAL France MALVERN PANALYTICAL France
a ajouté un article où est cité ZETIUM
Le 27/11/2024

Apports de la fluorescence X dans l'analyse des éléments traces dans les alliages métalliques

Le 27/11/2024

L'analyse des éléments traces dans les alliages métalliques est cruciale pour les industries nécessitant des matériaux aux propriétés spécifiques. La fluorescence X (XRF) offre une technique non destructive et précise pour cette analyse, jouant un rôle essentiel dans le contrôle qualité et la conformité des alliages. Cet article explore l'importance et les défis de l'analyse des éléments traces, ainsi que la contribution de la XRF à ce domaine.
Image Zetium Zetium
Image Epsilon 1 Epsilon 1
2 activité(s)