Caractérisation de surface de couches minces de polymère à l'aide de la microscopie à force atomique
Tosca
Le Microscope à force atomique (ou AFM : Atomic Force Miscroscopy en anglais) est un microscope à"sonde locale", cette dernière permettant d'afficher la topographie de la surface d'un échantillon.
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La société Anton Paar produit des appareils de mesure et de laboratoire pour l'industrie et la recherche
Les Ulis 91940 France
Producteur et distributeur d'équipements de spectroscopie optique pour la recherche et l'industrie
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Fabricant et fournisseur d'instrumentation scientifique.
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